-
Title
Group Leader, Materials Characterization Group -
Email
lee204@llnl.gov -
Phone
(925) 422-5846 -
Organization
PLS-MSD-MATERIALS SCIENCE DIVISION
Research interestsX-ray/synchrotron diagnostics Energy storage/conversion materials and systems Functional nanoscale and nano-structured materials Current positionGroup Leader (GL), Materials Characterization Group (MCG), Materials Science Division (MSD) Career pathJuly 2022-Present: GL, MCG Sept 2017-April 2024: Manager, MSD Materials Characterization Center Jan 2017-July 2022: Deputy GL, Nanoscale Integration Science Group Jun 2007-Present: Staff Scientist Jun 2004-Jun 2007: Post-Doctoral Researcher
|
PhD Physical Chemistry, University of Cambridge, UK, 2004
MSci Chemistry, University of Cambridge, UK, 1999
MA Natural Sciences, University of Cambridge, UK, 1999
Selected publications (20 out of 75)
[1] Colliard, I.; Lee, J. R. I.; Colla, C. A.; Mason, H. E.; Sawvel, A. M.; Zavarin, M.; Nyman, M.; Deblonde, G. J.-P., Nature Chemistry, 2022, 14, 1357
[2] Li, S.; Gunda, H.; Ray, K. G.; Wong, C.-S.; Xiao, P.; Friddle, R. W.; Liu, Y.-S.; Kang, S.Y.; Dun, C.; Sugar, J. D.; Kolasinski, R. D.; Wan, L. F.; Baker, A. A.; Lee, J. R. I.; Urban, J. J.; Jasuja, K.; Allendorf, M. D.; Stavila, V.; Wood, B. C., Nature Communications, 2021, 12, 6268
[3] Khairallah, S. A.; Martin, A. A.; Lee, J. R. I.; Guss, G.; Calta, N. P.; Hammons, J. A.; Nielsen, M. H.; Chaput, K.; Schwalbach, E.; Shah, M. N.; Chapman, M. G.; Willey, T. M.; Rubenchik, A. M.; Anderson, A. T.; Wang, Y. M.; Matthews, M. J.; King, W. E. Science, 2020, 368, 660
[4] Bagge-Hansen, M.; Bastea, S.; Hammons, J. A.; Nielsen, M. H.; Lauderbach, L. M.; Hodgin, R. L.; Pagoria, P.; May, C.; Aloni, S.; Jones, A.; Shaw, W. L.; Bukovsky, E. V.; Sinclair, N.; Gustavsen, R. L.; Watkins, E. B.; Jensen, B. J.; Dattelbaum, D. M.; Firestone, M. A.; Huber, R. C.; Ringstrand, B. S.; Lee, J. R. I.; van Buuren, T.; Fried L. E.; Willey, T. M. Nature Communications, 2019, 10, 3819
[5] Martin, A. A.; Calta, N. P.; Hammons, J. A.; Khairallah, S. A.; Nielsen, M. H.; Shuttlesworth, R. M.; Sinclair, N.; Matthews, M. J.; Jeffries, J. R.; Willey, T. M.; Lee, J. R. I.* Materials Today Advances, 2019, 1, 100002
[6] Wood, B. C.; Stavila, V.; Poonyayant, N.; Heo, T. W.; Ray, K. G.; Klebanoff, L. E.; Udovic, T. J.; Lee, J. R. I.; Angboonpong, N.; Sugar, J. D.; Pakawatpanurut, P. Advanced Materials Interfaces 2017, 4, (3), 1600803 (Cover Article).
[7] Sims, Z. C.; Rios, O. R.; Weiss, D.; Turchi, P. E. A.; Perron, A.; Lee, J. R. I.; Li. T. T.; Hammons, J. A.; Bagge-Hansen, M.; Willey, T. M.; An, K.; Chen, Y.; King, A. H.; McCall, S. K. Materials Horizons 2017, 4 1070
[8] Tran, I. C.; Tunuguntla, R. H.; Kim, K.; Lee, J. R. I.; Willey, T. M.; Weiss, T. M.; Noy, A.; van Buuren, T. Nano Letters 2016, 16, (7), 4019-4024.
[9] Lee, J. R. I.*; Bagge-Hansen, M.; Tunuguntla, R.; Kim, K.; Bangar, M.; Willey, T. M.; Tran, I. C.; Kilcoyne, D. A.; Noy, A.; van Buuren, T. Nanoscale 2015, 7, (21), 9477-9486 (Cover Article).
[10] Bagge-Hansen, M.; Wood, B. C.; Ogitsu, T.; Willey, T. M.; Tran, I. C.; Wittstock, A.; Biener, M. M.; Merrill, M. D.; Worsley, M. A.; Otani, M.; Chuang, C. H.; Prendergast, D.; Guo, J. H.; Baumann, T. F.; van Buuren, T.; Biener, J.; Lee, J. R. I.* Advanced Materials 2015, 27, (9), 1512-+ (Cover Article).
[11] Worsley, M. A.; Pham, T. T.; Yan, A. M.; Shin, S. J.; Lee, J. R. I.; Bagge-Hansen, M.; Mickelson, W.; Zettl, A. ACS Nano 2014, 8, (10), 11013-11022.
[12] Li, D. S.; Nielsen, M. H.; Lee, J. R. I.; Frandsen, C.; Banfield, J. F.; De Yoreo, J. J. Science 2012, 336, (6084), 1014-1018.
[13] Lee, J. R. I.; Whitley, H. D.; Meulenberg, R. W.; Wolcott, A.; Zhang, J. Z.; Prendergast, D.; Lovingood, D. D.; Strouse, G. F.; Ogitsu, T.; Schwegler, E.; Terminello, L. J.; van Buuren, T. Nano Letters 2012, 12, (6), 2763-2767.
[14] Biener, J.; Dasgupta, S.; Shao, L. H.; Wang, D.; Worsley, M. A.; Wittstock, A.; Lee, J. R. I.; Biener, M. M.; Orme, C. A.; Kucheyev, S. O.; Wood, B. C.; Willey, T. M.; Hamza, A. V.; Weissmuller, J.; Hahn, H.; Baumann, T. F. Advanced Materials 2012, 24, (37), 5083-5087.
[15] Worsley, M. A.; Olson, T. Y.; Lee, J. R. I.; Willey, T. M.; Nielsen, M. H.; Roberts, S. K.; Pauzauskie, P. J.; Biener, J.; Satcher, J. H.; Baumann, T. F. Journal of Physical Chemistry Letters 2011, 2, (8), 921-925.
[16] Meulenberg, R. W.; Lee, J. R. I.*; Wolcott, A.; Zhang, J. Z.; Terminello, L. J.; van Buuren, T. ACS Nano 2009, 3, (2), 325-330.
[17] Meulenberg, R. W.; Lee, J. R. I.*; McCall, S. K.; Hanif, K. M.; Haskel, D.; Lang, J. C.; Terminello, L. J.; van Buuren, T. Journal of the American Chemical Society 2009, 131, (20), 6888-+.
[18] Yang, W. L.; Fabbri, J. D.; Willey, T. M.; Lee, J. R. I.; Dahl, J. E.; Carlson, R. M. K.; Schreiner, P. R.; Fokin, A. A.; Tkachenko, B. A.; Fokina, N. A.; Meevasana, W.; Mannella, N.; Tanaka, K.; Zhou, X. J.; van Buuren, T.; Kelly, M. A.; Hussain, Z.; Melosh, N. A.; Shen, Z. X. Science 2007, 316, (5830), 1460-1462.
[19] Lee, J. R. I.*; Meulenberg, R. W.; Hanif, K. M.; Mattoussi, H.; Klepeis, J. E.; Terminello, L. J.; van Buuren, T. Physical Review Letters 2007, 98, (14).
[20] Lee, J. R. I.*; Han, T. Y. J.; Willey, T. M.; Wang, D.; Meulenberg, R. W.; Nilsson, J.; Dove, P. M.; Terminello, L. J.; van Buuren, T.; De Yoreo, J. J. Journal of the American Chemical Society 2007, 129, (34), 10370-10381.
* Denotes corresponding author
For a full list, see: Google Scholar: Jonathan R. I. Lee - Google Scholar | Scopus: Lee, Jonathan R.I. - Author details - Scopus | ORCID: https://orcid.org/0000-0001-7316-7643
|